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德國INGUN質(zhì)量通過精密的測(cè)試而得出的,根據(jù)這個(gè)測(cè)試,1971年一直在開發(fā)、制造和銷售各種測(cè)試設(shè)備的領(lǐng)域。德國INGUN一個(gè)全球性經(jīng)營公司檢測(cè)設(shè)備制造和提供測(cè)試探針和測(cè)試夾具。
1.ICT探針(ICT series Probes)一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mi1,75mi1,50mi1,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.
也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開關(guān)探針(Switch Probes)開關(guān)探針單一支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)用于測(cè)試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng),一般用于OSP處理過的PCBA測(cè)試.
7.高電流探針(High Current Probes)探針直徑在
2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
8.半導(dǎo)體探針(Semiconductor Probes)直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Q characteristic
9.電池接觸探針(Battery and Connector Contacts)一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長.除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用.
HSS-810-319-150A5302
HSS-810-308-080A5302
HSS-810-307-100A5302
HSS-810-306-150A5302
HSS-810-305-051A5302
HSS-810-303-150A5302
HSS-810-204-051A5302
HSS-810-201-051A5302